Goto T., Shi J., Li Q., Zhang L., Li H., Wang T., Yang M., Zhang S., Tu R., Wang K.
Ключевые слова: HTS, SmBCO, substrate LaAlO3, laser application, CVD process, thickness dependence, angular dependence, microwave devices, critical caracteristics, growth rate, X-ray diffraction, resistive transition, current-voltage characteristics, critical current density, experimental results
RSC Advances, 2017, v.7, N 89, p.56166-56172
Полный текст на Sci-Hub
Дополнительная информация
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ruТехническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.